粒度粒形检测仪粒度粒形颗粒测试技术进展

　　粒度粒形检测仪粒度粒形颗粒测试技术进展
　　
　　粒度粒形检测仪主要特点：
　　
　　精心设计的进样装置易于拆卸、方便清洗
　　
　　专为大颗粒设计的样品输送系统无损耗
　　
　　*的光路设计确保聚焦精度，并可消除小颗粒边缘效应
　　
　　通过高分辨CMOS得到高清晰颗粒图像
　　
　　粒度粒形检测仪粒度粒形颗粒测试技术进展
　　
　　近年来粒度粒形颗粒测试技术进展很快，表现在以下几个方面：
　　
　　1)粒度粒形检测仪激光粒度测试技术更加成熟，激光衍射/散射技术，现在已经成为颗粒测试的主流.其主要特点：测试速度快，重复性好，分辨率高，测试范围广得到了进一步的发挥.激光粒度分析技术zui近几年的主要进展在于提高分辨率和扩大测量范围.探测器尺寸增加，附加探头的使用扩大了测量范围;多种激光光源的使用、多镜头、会聚光路、多量程、可移动样品窗的使用提高了分辨率，采样速度的提高则进一步改善了仪器的重复性.目前激光粒度分析仪在技术上，已经达到了相当成熟的阶段.
　　
　　米氏理论模型可以提高仪器的分辨率，但是需要事先了解被测样品的折射率和吸收系数，才可能获得正确的结果.
　　
　　测试结果的优劣不仅取决于测试系统和计算模型，更加取决于样品的分散状态.粒度粒形检测仪对样品的分散要求是，分散而不分离.仪器厂家应更加注意样品分散系统设计.尽量避免小颗粒团聚，大颗粒沉降，大小颗粒离析，样品输运过程的损耗，外界杂质的侵入.对于不同样品选用不同的分散剂和不同的分散操作应该引起测试者的注意.
　　
　　任何原理的仪器测试范围都不是可以无限扩展的.静态光散射原理的激光粒度分析向纳米颗粒的扩展和向毫米方向的扩展极限值得探讨.毫米级的颗粒只需光学成像技术就可以轻易解决的测量问题采用激光散射原理则并不是优势所在.