第十六届中国粉体加工/散料输送展览会(IPB2018)作为粉体行业的重要的年度盛会于2018年10月17日在上海世博展览馆盛大开幕。仪思奇科技携多款新产品亮相此次展会。此次参展的主要产品主要有新一代高分辨率图像法粒度粒形分析仪IPAC2;图像法颗粒跟踪zeta电位分析仪ZetaCompact®;固体表面电位仪ZetaCAD®和超声法粒度和zeta电位分析仪。
仪思奇科技一直孜孜以求于把的颗粒分析技术引入国内市场,让新老客户了解到的图像粒度分析技术水平和丰富的多种zeta电位解决方案。
在此次展会上,仪思奇科技展出了分辨率可达到0.17微米/像素的图像法粒度粒形分析仪IPAC2。IPAC2图像法粒度和粒形分析仪属于湿法动态分析仪器,其分析范围粒度范围:0.3~1000μm,具有1200万像素CMOS成像系统,可配置自动进样系统。IPAC2可以确定蛋白质药物中污染物来源及聚集体个数,符合药典要求;可对蛋白质中气泡、硅油、异物等进行分类和数量统计,并可用于抛光液中的颗粒计数。
OCCHIO公司的ghost技术,可以对透明颗粒进行成像;强大的软件系统,使得IPAC2具有跟踪和计数功能。IPAC2是解决蛋白质、乳液等样品粒度粒形分析的利器。
在此次展会上同时展出了图像法zeta电位仪zetaCompact®和固体表面zeta电位仪ZetaCAD®。
图像法zeta电位分析是用于光散射电泳法和电声法zeta电位分析校准的基准仪器,可用于解决测量从20nm到50μm颗粒的电泳迁移率所遇到的所有问题,并计算胶体悬浮液的zeta电位。*,密度高或粒径大的颗粒会沉积在测量室底部。图像法zeta电位仪zetaCompact® 采取具有角度寻径分辨率的高精度图像分析方案,在垂直平面内测量悬浊液中颗粒的电泳迁移率分布,计算zeta值。并且能给出每个颗粒的zeta值,给出真正的zeta电位分布图(如下图),特别适合于乳液、纤维、混合材料、矿浆等样品的测定和分离条件确定。
固体表面电位分析仪ZetaCAD®是基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。ZetaCAD®适用于50μm以上的大颗粒、纤维和膜类等平坦的表面,或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品,包括聚合物、纺织、陶瓷、玻璃等,对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。固体表面电位分析仪研究材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性。
在IPB同期举行的2018第三届上海医药粉体制备技术交流会,邀请了国内药用粉体颗粒领域的专家开展高峰论坛,仪思奇科技总经理杨正红先生应邀做《静态图像法粒度和形貌分析技术在药品质量控制中的应用》主题报告。通过此次论坛,仪器厂商交流学习,广大用户互助探讨,进一步加深了对药用粉体颗粒领域颗粒表征技术的理解。
仪思奇科技一直秉承创新仪器科技,支撑材料研究的理念;推广的仪器,提供的服务为宗旨。
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