仪思奇科技应用实验室开始正式对外样品测试服务

    日前获悉， 为满足广大客户需求，仪思奇（北京）科技发展有限公司北京应用实验室已经对外正式服务，可以接受多功能超声粒度及Zeta电位分析仪和图像法粒度粒形分析仪委托样品测试。

一、 500nano XY 彩色粒度和形貌分析仪：

     目前，流行的粒度分布测定方法是激光衍射法，但是近新修订的GBT19077-2016《粒度分析：激光衍射法》（即ISO13320：2009）指出：激光粒度分析仪只能用于球形颗粒的检测，对于非球形颗粒误差较大，其结果受到颗粒形貌的极大影响，误差来源包括颗粒的光学各向异性、颗粒的非球形和表面粗糙度、荧光等，对极少量大颗粒灵敏度不够，可靠性范围在粒度分布的5%—95%之间。

    随着计算机技术的和计算机视觉技术的迅猛发展，以欧奇奥仪器公司为代表的新一代图像法粒度和形貌分析仪用“眼”看世界，正在逐步取代流行了二十年的激光粒度仪。它没有理论假设，只有对颗粒的定义，因此，能够地反映样品的真实粒度及其分布，并且能对颗粒形貌进行地定量分析，给出各种形貌分布图。目前，实验室拥有的500nano XY静态法图像分析仪代表着粒度和形貌分析的zui高水平，可以对0.2—3000微米范围内的样品进行透射、反射和彩色分析，可以提供宏观、介观和微观的颗粒形貌参数，分析参数多达80个，具体参数如下：

l 干法：0.2 µm-3000 µm;   湿法：0.2µm-300 µm

l 符合ISO-13322-1规范

l 无需理论及样品参数设定, 给出zui真实的分析结果

l 干法和湿法两用, 具备颗粒计数功能

l 分析快速、操作简便，80个以上粒径和形貌分析参数

l 不仅可利用透射光分析，还可以利用反射光进行分析

二、DT-1202 超声粒度和zeta电位分析仪：

美国分散科技公司（Dispersion Technology，Inc，DTI）专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DTI开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 ζ电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括CMP浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体，是高浓度、高粘度或有色胶体体系的*测量手段。

应用实验室现有的DT-1202 超声粒度和zeta电位分析仪实际是一台高度集成的超声/电声谱分析仪，不仅可以测定原浓体系黑色浆料的粒度分布和zeta电位（粒度范围：5nm～1mm，体积浓度可达50%），适应高粘度样品的测定（可达20,000 cP），而且可在一台仪器上完成pH、温度、电导率及流变性质的测定。该仪器可同时执行ISO 20998/ ISO13099标准，利用电学和声学方法，可以在分散液、微乳液、具有液体分散介质的多孔材料等多相体系中测定Zeta电位。对Zeta电位值和分散相的质量分数（包括稀释和浓缩体系）没有限定，颗粒粒径和孔径大小可以在微米量级或纳米范围，对颗粒或孔隙的几何形状也没有特殊的限制。液体分散介质可以是水相或者非水相，可具有任意的液体电导率、介电常数或化学成分。颗粒自身可以导电也可以不导电，胶体的双电层可以分离也可以互相重叠，双电层厚度或其它性质没有限制。因此，对于电池浆料及其类似体系具有广泛的适用性。除此之外，我们还可以计算在ISO13099标准中与体系颗粒电学性质相关的以下参数：

1.Debye：即德拜长度（Debye length），电解液中双电层的特征长度，单位是nm。它反映了胶体颗粒外层紧密层+扩散层的厚度，即双电层厚度。双电层厚度可以直接表明胶体颗粒带电多少、带电离子水化膜的厚薄和ζ电位的大小，它们直接影响着分散体系的稳定性和流变性。

2. Du：杜坎数（Dukhin number），无量纲，反映表面电导率对电动、电声现象及多相体系电导率和介电常数的贡献，是双电层极化状态的表面过剩导电率的表征参数。它描述了颗粒的表面电导率和周围流体的体电导率之间的比率。

3. Surface charge：双电层的面电荷密度。单位面积界面上的电荷，由液体体相离子的特异吸附，或表面基团解离所致。表面电荷密度的单位是C/cm² （库伦/厘米²）。

此外，该仪器还可以通过电声电震法测定多孔材料的孔隙率和表面zeta电位。

仪思奇（北京）科技发展有限公司于在新能源领域、生物医药领域和催化化工领域的新型仪器分析技术的推广，同时联合高校、企业以及中科院相关领域的专家学者研制和设计催化行业急需的仪器，以仪器分析解决方案支撑前沿材料研发和生产、促进科研院所材料研发成果的产业化。